北京科技大学掠入射X射线衍射测量系统-北京科技大学-政府采购意向

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（一）采购标的名称：掠入射X射线衍射测量系统 （二）采购标需实现的主要功能或者目标 掠入射X射线衍射测量系统利用X射线全反射效应，通过将入射角设置在极小的范围内，将X射线的探测深度限制在样品表面纳米尺度内，能极大地增强表面信号的强度，并有效排除体相材料的干扰。掠入射X射线衍射测量系统用于纳米级薄膜材料的物相分析，测量层多晶薄膜的成份、密度、厚度以及粗糙度，薄膜材料的结构及相关参数的表征，包括物相（晶格常数）、晶格失配度、应变与弛豫、倒易空间图、摇摆曲线等高分辨精确测量。 （三）采购标的数量：1套 （四）采购标需满足的质量、服务、安全、时限等要求 合同签订并收到预付款或者LC后10个月内交货，自验收合格之日起质保期不少于一年。各项技术参数符合相关国家标准以及采购技术要求。须提供在售全新设备，不得为停产型号或翻新机。