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| 半导体物理性质测试系统 | |
| 项目所在采购意向： | |
| 采购单位： | ****点击查看 |
| 采购项目名称： | 半导体物理性质测试系统 |
| 预算金额： | 133.000000万元(人民币) |
| 采购品目： | |
| 采购需求概况 ： | 采购内容:探针台、电学源表、紫外单色光源；主要功能或目标:半导体材料及器件在高精度、大范围、低功耗等条件下物理性质的测试，能实现半导体样品在低温、高温、单色光照等严苛环境下，在高频、超短脉冲、大量程等条进下进行的高精度电学性质测量，能满足光电探测器、忆阻器、压敏电阻、晶体管等半导体器件的科研测量需求；需满足的要求:直流测量模块为双源，最小电流分辨率5fA，电流测量量程100mA ﹒最小脉冲宽度20ns ﹒C～V参数测量频率：1KHz～10MHz变频 ﹒低温测量主机需提供-100摄氏度至350摄氏度的测试环境，可提供不少于10个波长的紫外单色光照 ﹒阻抗测试需提供最低5mHz的频率，电阻测量仪表需提供0～1000V大范围高精度电压测试。 |
| 预计采购时间： | ****点击查看 |
| 备注： | 无 |
本次公开的****点击查看政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
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