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| 1 | ****点击查看双球差透射电子表征和纳米离子加工系统 | 标的名称：双球差透射电子表征和纳米离子加工系统；标的数量：1；标的目标：为新型纳米功能材料的设计优化、电极材料微观机制探究等提供关键数据支撑。双球差透射电子表征及纳米离子加工将材料制备与原子/分子尺度的实时、原位表征在同一个平台上无缝集成，深入揭示材料性能的本质与机理，极大加速先进材料的理性设计与优化，在关键领域取得突破；标的要求：主要设备一为双球差透射电子显微镜JEM-ARM300（NEOARM），主要设备二为纳米离子加工（双束聚焦扫描电子显微镜(FIB)）。并配套电子光学系统、加速电压、电子枪、真空系统、聚光镜与物镜、探测器及相机、测角台（无缝衔接压电驱动）、一体化的扫描透射（STEM）系统、原子级分辨能力的电制冷能谱仪EDS、原位快速CMOS（Clearview）成像系统技术规格、原位能量过滤分析系统、直接探测能量过滤系统和4D-STEM系统、光电催化样品原位制备及转移系统、双束聚焦扫描电子显微镜（FIB）、实验室环境改造 | 4700.00 | ****点击查看 |
