小角X射线散射仪-中国科学院高能物理研究所-政府采购意向

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基于X射线散射原理对样品进行结构表征，主要用于研究纳米到亚微米尺度（约1–100 nm）范围内的物质微观结构。能够提供关于粒子尺寸、形貌、分布、内部结构以及相互作用等关键信息。可与中子散射技术联用。X射线的能量范围：8 keV；焦斑（直径）≤30 μm，样品处最大X射线的通量：≥ 6.0×108 phs/s；光斑直径在0.10-2.0 mm范围内连续、自动调节，精度≤0.001 mm; 系统动态量程：≥2x1010，真空度≤0.1 mbar；变温样品台控制范围：-150~600 ℃，温控精度：1 ℃。拉伸样品台温度控制范围：-150~600 ℃，温控精度：1 ℃，拉伸应力范围：0~600 N，拉伸应力精度：0.001 N；二维阵列单光子计数探测器最大计数率：≥6.9×108 phs/mm2；单个探测器的工作面积≥75×75 mm2；单个像素动态范围：32 bit；量子效率98%；数据测试范围：二维小角最小可测散射矢量qmin≤0.009 nm-1；二维广角最大可测散射矢量qmax≥ 49nm-1。