X射线-电子束双束全自动分析显微镜-中国科学院地质与地球物理研究所-政府采购意向

A****点击查看0405射线式分析仪器

1.分辨率：≤0.6 nm @ 15 kV，SE；≤1.0 nm @ 1 kV，SE；Mo-K 线光斑≤15μm； 2.平插式硅漂移探测器能量分辨率：在100,000CPS条件下Mn Ka保证优于129eV，轻元素分辨率：C-K/57eV, F-K/67eV； 3.斜插式硅漂移探测器：有效面积≥60mm2，能量分辨率在130,000CPS条件下Mn-Ka保证优于129eV 4.超高灵敏度直接电子探测EBSD技术：采集速度和空间分辨率兼得，采集速度>14,000点/秒@10 kV，在获得高分辨EBSD结果的同时保证速度 5.自动分析系统应具备完整的数据库：至少应具有 2000种以上的基本矿物（包括元素成分和能谱谱线）；最小可识别矿物≤1微米；样品测量时间（直径30cm）为15min。