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发布时间：2024-09-30 16:02:26
| 膜厚仪 | 项目编号****点击查看 | |
| 2024-09-30 16:02:26 | 公告截止日期2024-10-04 12:00:00 | |
| ****点击查看 | 付款方式100%电汇，见开箱记录后电汇支付90%货款，剩余货款验收合格后电汇支付。 | |
| 发布竞价结果后7天内签订合同 | 到货时间要求合同签订后60天内送达 | |
| 币种 | 美元 | |
| **省**市**区****点击查看 | ||
| 无 | ||
| 膜厚仪 | 1.00 | 套 | 无 |
| filmetrics |
| F40 |
| 1.测量薄膜厚度范围：20nm-50um （SiO2 on Si） 2.测量n和k值最小厚度要求：100nm 3.波长范围：400-850nm 4.光纤通光波长范围：190-1700nm 5.准确度：0.2%或2nm 6.精度：0.02nm 7.稳定性：0.05nm 8.光斑大小：根据物镜倍数，10um—100um 9.光源及寿命：钨卤灯 1200h 10.厚度标准片：配置氧化硅厚度标准片 11.*具备autocal光谱自动校正功能 12.*离线分析软件：可授权离线分析软件模拟实际测量，不需要连接主机 13.厚度拟合算法：至少拥有Exact，Robust和FFT三种厚度拟合算法 14.材料库：拥有不小于100种不同材料的数据库，可自由导入新材料文件 15.原始信号：可实时显示光强原始信息，用于信号聚焦 16.反射率模拟：可进行不同镀膜材料的建模，模拟镀膜膜系的反射率曲线 17.电脑抛档：可以实现测量文件抛档，与自命名 18.配置光学平台 19.配置显示器 20.文件导出格式：CSV,fibhi,mls |
| 按行业标准提供服务，质保期36个月。 |
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