基于加工、检测设备的小样本离轴自由曲面成像系统公差分析(XJ025061800929)

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发布于 2025-06-19

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西安应用光学研究所
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参与方式:公开询价

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开始时间:2025-06-19 08:00:00

结束时间:2025-06-27 17:59:00

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