关于公开征集设计仿真类和模块集成及精密零部件加工检测类货物采购潜在供方的公告招标公告

货物明细

货物序号

货物名称

主要技术（性能）指标或规格要求

单位(台/套)

数量

技术联系人

一、设计仿真类

18

1

软件源代码静态分析工具系统

软件源代码静态分析工具是在不改变现有开发、测试流程的前提下与源代码管理系统（Git、SVN等）、缺陷管理系统（如Jira、Bugzilla、禅道等）、持续集成工具（如Jenkins、禅道）可以无缝对接，将源代码检测融入项目的研发流程，实现源代码编码规则检测、运行时缺陷检测、安全漏洞检测、度量统计、克隆检测、逆向架构图自动生成，并提供了检测器自主研发接口等功能，帮助产品快速构建源代码安全自主检测体系和能力。1点位。

套

1

宫工

150****点击查看1229

2

软件界面自动化测试工具

用于搭建65产品的UI自动化测试平台。l
跨平台：具备Window、Linux操作系统上UI自动化测试能力；
支持QT、WPF等开发软件；
适用PC端桌面程序的UI自动化测试。
1点位。

套

1

宫工

150****点击查看1229

3

软件界面编程工具及系统功能库

用于搭建65产品的UI编程。l
跨平台：具备Window、Linux操作系统上UI界面的集成开发调试能力；
带有界面所需的操作系统功能封装库；2个DC永久开发许可。

套

1

宫工

150****点击查看1229

4

成像光学设计软件

主要用于光学系统设计与仿真分析，主要包含成像系统设计与分析、成像系统公差与杂光分析、结构和热分析等模块。1点位。

套

1

张工

181****点击查看8608

5

照明仿真软件

为光学系统的研制提供必要的仿真模拟、自动优化、能量计算、公差分析、杂散光分析等支持。1点位。

套

1

张工

181****点击查看8608

6

多物理场仿真软件

用于在项目实施的研发阶段、分系统集成阶段均可进行相关仿真。主要包含如下模块：
a) 射线光学：几何光学、射线加热；
b) 波动光学：电磁波-时域显式、电磁波-波束包络、电磁波-瞬态、电磁波-边界元、电磁波-频域、电磁波-FEM-BEM；
c) 射频模块：电磁波-时域显式、电磁波-渐近散射、电磁波-瞬态、电磁波-边界元、电磁波-频域、电磁波-FEM-BEM。
1点位。

套

1

谷工

151****点击查看1506

7

机械设计软件

用于机械三维设计，具备设计建模、特定于流程的建模工具、工业设计、产品验证等功能。30点位。

套

1

田工

130****点击查看0171

8

产品数据管理平台

集成了目前机械设计使用的NX设计软件，软件三库，电子电气使用的P8、eplan以及与harness，实现了数据共享，涵盖了产品项目管理、产品存档等功能，实现了设计过程中的产品数据共享。200点位。

套

1

田工

130****点击查看0171

9

交互式建模仿真分析软件

使用Matlab软件，基于MBD（Model Based Design）开发思路，能够较好的实现所需的高控制精度。并且搭配Matlab对应的基本包，可以进行离线仿真分析，算法设计优化，可以进一步的优化控制系统，提高控制精度从而满足设备更新迭代的需求。1点位。

套

1

步工

158****点击查看2078

10

复杂系统一维建模及仿真平台

用于搭建整机及分系统一维热网络、冷却水流阻网络、流热耦合分析模型、整机一维机械动力学系统、整机电子控制系统，用于整机设备在概念设计、详细设计阶段和优化设计阶段快速计算压力温度等环境参数、应力模态等力学参数，指导产品设计。1点位。

套

1

董工

182****点击查看6980

11

超弹性材料有限元仿真软件

用于对橡胶组件进行仿真分析，从本构方程及材料参数出发对悬置橡胶设计，将对减振器设计及问题排查提供有力的理论依据，更好指导设计的同时，还可以进行性能优化。3点位。

套

1

路工

182****点击查看8768

12

尺寸链计算及公差计算软件

用于产品的公差设计和优化，包括尺寸及几何公差对质量性能影响的模拟和预测与优化、公差匹配性管理与控制、装配工艺参数与公差组合模拟分析与优化，与产品设计并行开展可装配性验证，缺陷预防和改进等任务。5点位。

套

1

毕工

185****点击查看4436

13

测试服务器

用于软件研发过程中的技术试验和软件测试。<1>采用国产的海光（HYGON）7285处理器，32核心，2.0GHz；
<2>128G内存；
<3>32T硬盘；
<4>6G显卡显存；
<5>Raid10磁盘阵列；
<6>支持Win10、Linux、银河**操作系统。

台

6

张工

183****点击查看9305

二、精密零部件加工与检测类

26

14

矢量网络分析仪

用于测量测试功分器、合路器、滤波器、衰减器、天线、电缆、放大器等器件。
（1）频率范围：9 kHz～4.5 GHz；
（2）端口数量：4；
（3）中频带宽：1Hz～1MHz。

台

1

李工

176****点击查看8305

15

热成像仪

用于大范围测量板卡热源。
（1）人机接口：5.7 英寸屏幕，240 度旋转；
（2）激光对焦：LaserSharpR 激光自动对焦；
（3）多点对焦：MultiSharpTM 多点对焦在整个视场中提供自动对焦图像。

台

1

李工

176****点击查看8305

16

卧式定心车

用于加工径和质量不太大的中小型镜头，**显微镜和照相物镜的镜框加工等。
曲率范围：±3-±inf mm；
口径范围：5-250mm；
光轴定心加工精度：3um。

台

1

孙工

131****点击查看2169

17

光学传函仪

用于加工显微镜和照相物镜的镜框等中小型镜头。
（1）样品焦距范围：1-300mm；
（2）被测样品通光口径：<13mm(焦距40mm),<45mm(焦距300mm),<45mm(焦距500mm)；
（3）最大像高：±40mm；
（4）最大法兰焦距：50mm。

台

1

陈工

188****点击查看5565

18

白光干涉仪

用于测量各个样品表面，包括平面度、粗糙度和波纹度等指标。
（1）全量程扫描范围0-20mm，单次扫描完成，非拼接；
（2）扫描速度：≥170um/s；
（3）CCD分辨率：1600×1200；
(4）工件台尺寸：1000×1000mm。

台

1

高工

187****点击查看1436

19

24寸立式平面干涉仪

用于吸盘及微晶玻璃的大尺寸区域面型测量，并确保测量值的准确性。
（1）分辨率1.4k*1.4k ，配置1倍，1.7倍和3倍分 立变焦系统；
（2）测量口径：φ600mm；
（3）RMS波前测试重复性： ≤0.35nm,λ/1800，(mean+2σ）。

台

1

孙工

158****点击查看6729

20

24寸卧式平面干涉仪

用于高精度平面面型、均匀度**行度测量和光学元件的高精度检测。
（1)空腔精度：φ600mm 内 PV≤λ/10，RMS≤λ/60， PSD1≤1.1nm， GRMS小于等于 2.5nm/cm；
（2) RMS测试重复性：φ100mm端口≤λ/12000，φ600mm端口≤λ/2000（2σ）；
（3)系统传递函数：0.4mm-1处≥0.7；
（4)对准视场：±2.5。

台

1

孙工

158****点击查看6729

21

轮廓仪

用于对球面、非球面、平面等面型的加工进行高精度接触式测量和面型拟合，对加工产生的误差进行及时分析。
（1）最大工件直径：300 mm；
（2）标称传感器量程(Z)：±6mm（标准测杆）；±12mm（两倍测杆）；
（3）标准圆弧Pt精度：Pt≤0.4μm。

台

1

高工

187****点击查看1436

22

偏振测量仪

用于分析评估各偏振元件的性能质量，以及对光源及各种空间光和光纤出光进行偏振测量。
（1）Q、U、V、DOP、DOLP、DOCP的重复性：3σ≤0.001 或者 0.5%
（2）椭圆角度和偏振光线性角度的重复性：3σ≤0.05°
（3）偏振度测量精度：±0.5%

台

1

高工

187****点击查看1436

23

荧光分光光度计

用于扫描荧光物质(液体、固体样品)所发出的荧光光谱。
（1）检测灵敏度：水拉曼峰信噪比：S/N≥150（P-P）；
（2）带宽：4档可选:2nm/5nm/10nm/20nm；
（3）波长准确度：±1nm；
（4）波长重复度：≤0.5nm。

台

1

张工

181****点击查看8608

24

超连续谱光源

提供不同波长的光源，测试光学元件的透过率等性能。
（1）覆盖波长最小值：450nm；
（2）覆盖波长最大值：2400nm；
（3）功率稳定性：＜±1%。

台

1

高工

187****点击查看1436

25

光栅光谱仪

用于测量样品对不同波长光的吸收、发射或散射来确定样品成分。
（1）波长范围：350nm-1200nm；
（2）波长分辨率设置：0.02,0.05,0.1,0.2,0.5,1,2,5和10nm；
（3）波长精度：
±0.2（全波长范围）
±0.05（633nm）
（4）最大测量功率范围：
+10dBm（400~550nm）
+20dBm（550~1100nm）

台

1

高工

187****点击查看1436

26

波前调制器

用于光场调控，实现矢量光束、环形光照明和像差校正等功能。
（1）适用波长范围 400-1650；
（2）分辨率 1024*1024；
（3）填充因子 97.2%。

台

1

吴工

176****点击查看7233

27

内调焦自准直仪

用于掩模对准分系统物镜镜片装调测试。
（1）通光孔径：35mm；
（2）调焦范围：400mm至无穷远；
（3）光轴稳定度：<4″；
（4）视场范围：660mm（30m时）；
（5）分辨率：0.01″。

台

1

陈工

188****点击查看5565

28

中心偏差测量仪

用于测量同轴光学系统中光学元件的横向偏心和镜片光轴相对于光路光轴的偏转等指标。
（1）中心偏差测量精度： ≤±0.2μm或±2″；
（2）中心偏差重复测量精度： ≤±0.1μm或±1″；
（3）曲率半径测量精度：0.3%。

台

1

陈工

188****点击查看5565

29

压力校准仪

用于校验各类型绝对压力传感器、压力变送器、压力传感器、压力开关、差压变送器、数字压力表。
（1）控制模块CM2 7KPa 表压：0.0125%rdg+0.0125%FS；
（2）控制模块CM3 200KPa 绝压：0.001%FS；
（3）控制稳定性：优于0.001%FS。

台

1

王工

177****点击查看0113

30

便携式声学检测设备

用于将声音以彩色等高线图的方式可视化，形成类似于热成像仪对舞台温度的探测效果，然后通过照片或视频方式直观显示出声源分布，从而准确定位设备噪声源，更加快捷有效解决噪声困扰问题。
（1）麦克风数量：144；
（2）麦克风灵敏度：-26dBFS；
（3）声音分析频率范围：25Hz~96kHz。

台

1

王工

177****点击查看0113

31

气相质谱仪

用于测量高纯氮气吹扫区域的氧气、水以及有机挥发物的浓度。
（1）灵敏度：Elf:300; Eiger:1000; Scout:4000; S:30K; 2R:30K; B:10K; B2:20K；
（2）质量分辨率：Elf:300; Eiger:2200; Scout:3500; S:5000; 2R:10000; B:1500; B2:5000。

台

1

董工

182****点击查看6980

32

高精度多点风速测量仪

用于工件台、掩模台、晶圆传输、掩模传输等分系统的气浴速度测量、分系统与整机内环境流体接口的气体流速、整机内部关键位置速度测量。
（1）风速范围 0.05-2m/s；
（2）精度 ±0.025m/s；
（3）风向角 ±90°,全方位。

台

1

王工

177****点击查看0113

33

磁场相机

用于在项目实施的调试阶段、分系统集成阶段，针对电机永磁体性能、永磁体对环境磁场的影响、传感器所处磁场环境、电磁屏蔽等多方面问题进行辅助分析和解决。
（1）几何分辨率：100μm；
（2）传感器尺寸规格：12.8*12.8mm；
（3）绝对精度 小于满量程的1%；
（4）重复性 小于满量程的0.2%。

台

1

崔工

188****点击查看5749

34

振动测试台

用于模拟各种类型的振动现象，以测试产品或材料的动力学特性或可靠性。
（1）最大有效负载 1500kg；
（2)频率范围 1-200Hz；
(3)随机振动加速度 2g；
(4)最大冲击加速度 4g。

台

1

赵工

135****点击查看5297

35

大行程点胶机

用于整机环境和顶部照明等分系统零件的涂胶粘接。
（1）涂胶行程 1500mm×1500mm×500mm；
（2）定位精度 ±0.02；
（3）胶阀比例 1:1~1:10；
（4）胶阀最小出胶量 0.004ml。

台

1

时工

186****点击查看2079

36

超高精度三坐标测量仪

用于工件台、光学机械、晶圆传输等分系统的关键零部件集成阶段的重要尺寸测量。（1）X、Y、Z轴测量行程：1200×1000×700mm；
（2）长度精度：0.3＋L/1000μm。

台

1

毕工

185****点击查看4436

37

高性能声学及振动信号分析仪

用于测试整机框架等分系统关键零部件动态性能。支撑项目9光刻机动力学应用技术研究。用于评估现有结构的动态特性，为控制结构的辐射噪声、降低关键结构的振动噪声水平，并找到振动噪声产生的根源、以及结构动力学修改、产品优化设计、验证有限元模型、提高数字模型的精度等提供数据支撑。
（1）通道情况：6或12通道电压；
（2）随机振动：有效值14g；
（3）抗冲击：1.5m跌落试验抗冲击50g。
（4）声压波：有效值10Pa

台

1

景工

152****点击查看0486

38

表面尘埃粒子理化分析仪

需要对影响曝光质量的大于0.15 um的颗粒的数量进行严格控制以提高产品良率，支撑项目8曝光工艺开发。用于测量和检验机台及零件表面微粒子（SPD）的精密仪器，能快速检测0.1μm-5μm的粒子，对于曝光环境的控制，提升产品良率等方面起到积极作用。
(1)测量范围: 0.1um - 5um；
(2)粒径通道 0.1, 0.2, 0.3, 1.0, 3.0,5.0um；
(3)取样模式 静态取样和动态取样。

台

1

赵工

135****点击查看5297

39

圆度仪

用于对减振器内部结构组件活塞、缸套的检验，因其圆跳动公差要求在1um，所以需要超高精度圆度测量系统来检验其跳动公差。
1.传感器量程 最大2mm，分辨率 最小1.2nm
2.圆度径向精度±0.02um
3.粗糙度 Ra小于0.1um

台

1

路工

182****点击查看8768

潜在供方名称

详细地址

邮编

法人代表

职务

电话

技术代表

职务

电话

销售负责人

职务

电话

业务联系人

职务

电话

企业概况

类别

*生产厂家 *代理商

注册资金

管理人员

技术人员

建筑面积

创建日期

生产人数

上年营业收入

社会信用统一代码

社保人数

实缴资本

公司简介及业务范围

知识产权情况（可附证书/证明）

授权专利/授权许可

注册商标

著作权

天眼查知识产权诉讼情况

有 □ 无 □

第三方认证情况

证书名称

证书号

有效期

天眼查违约违纪情况（选择“√”“×”）

有 □ 无 □

主要客户