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| 2025****点击查看中心S-4800扫描电镜补充设备——能谱分析仪 | 项目编号****点击查看 | |
| 2025-07-30 10:35:48 | 公告截止日期2025-08-04 11:00:00 | |
| ****点击查看 | 付款方式货到验收合格后付款 | |
| 联系电话 | ||
| 到货时间要求 | 签订合同后90个工作日内 | |
| ￥600000.00 | ||
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| 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 能谱分析仪 | 1 | 台 | 其他分析仪器 |
| Bruker |
| XFlash760 |
| ￥ 600000.00 |
| *1 探测器：硅漂移（SDD）电制冷探测器，采用场效应管（FET）一体化集成设计的高速SDD 芯片，芯片面积≥80mm2，活区面积≥60mm2，超薄窗设计，独立真空，电动滑轨一键进出；采用纤细化等技术提高固体角，探测器探指直径≤18.2mm，改善系统分析效率； 2 能量分辨率：在130,000CPS条件下Mn-Ka保证优于129eV，轻元素分辨率C-K/57eV, F-K/67eV； *3 元素分析范围: Be4～Cf98； 4 谱峰稳定性：1,000cps到100,000cps，Mn Ka峰谱峰漂移小于1eV，48小时内峰位漂移小于1.5eV； 5 具备零峰修正功能，可以快速稳定谱峰，开机后无需重新修正峰位； *6 处理器单元与计算机采用分立式设计，系统最大输出计数率≥600,000cps； 7 谱定性分析：可自动标识谱峰，可设定自动标定的元素范围；可自动扣除背底，并支持用户手动调整；可进行谱重构，对重叠峰进行可视化谱峰剥离 *8 配备完善而精准的原子数据库，包含所有的分析线系(K, L, M 和 N线系) *9定量分析：提供两种定量方法，并可对抛光表面或粗糙表面定量分析。采用定量修正技术，可对倾斜样品进行修正，并增强对轻元素的修正；可以得到归一化和非归一化定量结果，可以用化学配位法得到非归一化结果； *10 集成1-30kV连续电压共2200条数据库，实现精确的定量分析 *11所有部件模块化设计，可现场更换所有部件 12 包含全息面分布、实时面分布、实时谱峰剥离等功能。 13.质保三年 |
| 技术支持:7x24小时;保修期:五年;服务响应时限:报修后2小时;质保期:三年;培训要求:培训一次;是否含税:进口含税; |
| ****点击查看 |
| ￥ 578000.00 |
