1. 硬件参数 1.1.▲雾化器:耐高盐、高效石英**雾化器; 1.2.雾室:双通道石英雾室,雾室外配置全包裹式半导体制冷装置,提升去溶效果; 1.3.炬管:一体式石英炬管,无O型圈设计,拆卸和安装方便,炬管X/Y/Z定位可由步进电机控制自动完成; 1.4.★接口:镍制样品锥和截取锥组成的接口,锥数量2个,为防过多基体进入后续质谱系统,在保证灵敏度的前提下锥孔径尽可能小,采样锥孔径≤1.0mm,截取锥孔径≤0.45mm; 1.5.★离子源:数控式、固态射频发生器,射频频率≤27.12 MHz,功率范围500~1600W,射频线圈水冷设计; 1.6.二次放电消除技术:具备屏蔽矩物理接地技术,以预防意外放电造成的工作线圈击穿; 1.7.离子透镜:由离子提取和离子偏转双系统组成,同时装有2个提取透镜。 1.8.★碰撞/反应池:具备八极杆设计,具有最佳离子聚焦及传输效率; 1.9.质量分析器:采用Mo材质双曲面四极杆,提供最理想电场分布和最佳丰度灵敏度; 1.9.1.四极杆驱动频率大于2.8 MHz; 1.9.2.四极杆质量数范围:2-258 amu; 1.10.检测器:检测器离子技术范围不小于0.1-109 cps,即不使用电子稀释等数学手段下动态范围不低于10个数量级; 2. 操作软件: 2.1.操作系统:Windows 10操作系统及在此系统下运行的仪器控制软件; 2.2.全自动工作条件调谐 (AutoTuning); 3. 性能指标: 3.1.灵敏度【cps/ppm】 低质量数:Li(7) ≥50 M 中质量数:Y(89) ≥300 M 高质量数:Tl(205) ≥200 M 3.2.检测限【3*sigma,ppt】 Be(9) ≤ 0.5 ppt In(115) ≤ 0.1 ppt Bi(209) ≤ 0.1 ppt 3.3.背景:≤1.0 cps (在质量数9 amu处实测背景) 3.4.★氧化物产率(CeO+/Ce+) :≤1.5 % 3.5.双电荷产率(Ce2+/Ce+):≤3.0 % 3.6.短期稳定性(RSD): ≤2% (20 min) (须在1ppb 标准溶液中测定) 3.7.长期稳定性(RSD):≤3% (2 hrs) (须在1ppb 标准溶液中测定) 基本配置 1、ICP-MS 主机1台 2、ICP-MS 原装操作软件1套; 3、循环冷却水机1台; 4、耐氢氟酸进样系统1套; 5、原装ICP-MS调谐液、多元素标准溶液、内标溶液各1套; 6、不间断电源1套 |