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| X荧光光谱仪 | 项目编号****点击查看 | |
| 2025-06-13 09:33:15 | 公告截止日期2025-06-16 10:00:00 | |
| ****点击查看 | 付款方式合同签订后70%，验收合格后30% | |
| 联系电话 | ||
| 到货时间要求 | 签订合同后30个工作日内 | |
| ￥ 278000.00 | ||
| **市****点击查看 | ||
| 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| X荧光光谱仪 | 1 | 台 |
| ￥ 278000.00 |
| 1、分析元素范围：Na(11)-U(92)之间的元素包括但不仅限于（Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、W、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Sn、Sb等） 2、可同时测试涂层厚度，包括元素不仅限于（Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Zn、Cu、Hf、Ta、W、Re、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Pd、Ag、Sn、Sb、Cd、Au等） 3、X射线产生装置：采用X光管管电压可在5-50KV电压中，每1KV自动控制切换 4、照射光路：下照式 5、准直器：8个 6、X射线滤镜：5种 7、X射线照射面积包含Ф8mm、6mm、4mm、3mm、2mm、1mm、0.5mm、0.1mm 8、探测器及探测器制冷方式：采用电制冷高性能、高分辨率SDD探测器 9、分辨率：达到145±5eV 10、可测试样品类型：固体、液体和粉未 11、元素分析软件方法：内标法、定性、定量分析、FP法、EC法多种函数法。 12、测试时间：小于等于300秒 13、成份分析软件：支持Windows操作系统，中文版软件（可安装英文软件）；具备技术管理权限密码功能；光谱解析方法具备：全面积、净面积、高斯拟合、多元拟合、纯元素拟合、FP高斯拟合六种方法；软件具备定性分析，自动元素识别功能； 14、提供设备辐射豁免函极其辐射检测报告 |
| 24个月 |
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